一、操作步驟
1.
紅外光譜儀開(kāi)機(jī)前準(zhǔn)備:開(kāi)機(jī)前檢查實(shí)驗(yàn)室電源、溫度和濕度等環(huán)境條件,當(dāng)電壓穩(wěn)定,室溫為21±5℃左右,濕度≤65%才能開(kāi)機(jī)。
2.開(kāi)機(jī):開(kāi)機(jī)時(shí),首先打開(kāi)儀器電源,穩(wěn)定半小時(shí),使得儀器能量達(dá)到*狀態(tài)。開(kāi)啟電腦,并打開(kāi)儀器操作平臺(tái)軟件,運(yùn)行菜單,檢查儀器穩(wěn)定性。
3.制樣:根據(jù)樣品特性以及狀態(tài),制定相應(yīng)的制樣方法并制樣。
4.掃描和輸出紅外光譜圖:測(cè)試紅外光譜圖時(shí),先掃描空光路背景信號(hào),再掃描樣品文件信號(hào),經(jīng)傅立葉變換得到樣品紅外光譜圖。
5.關(guān)機(jī)
?。?)關(guān)機(jī)時(shí),先關(guān)閉軟件,再關(guān)閉儀器電源,zui后關(guān)閉計(jì)算機(jī)并蓋上儀器防塵罩。
(2)在記錄本記錄使用情況。
二、
紅外光譜儀操作注意事項(xiàng)
1.測(cè)定時(shí)實(shí)驗(yàn)室的溫度應(yīng)在15~30℃,所用的電源應(yīng)配備有穩(wěn)壓裝置。
2.為防止儀器受潮而影響使用壽命,紅外實(shí)驗(yàn)室應(yīng)保持干燥。
3.樣品的研磨要在紅外燈下進(jìn)行,防止樣品吸水。
4.壓片用的模具用后應(yīng)立即把各部分擦干凈,必要時(shí)用水清洗干凈并擦干,置干燥器中保存,以免銹蝕。
5.采樣器使用須注意幾點(diǎn):
?。?)樣品與Ge晶體間必須緊密接觸,不留縫隙。否則紅外光射到空氣層就發(fā)生衰減全反射,不進(jìn)入樣品層。
(2)對(duì)于熱、燙、冰冷、強(qiáng)腐蝕性的樣品不能直接置于晶體上進(jìn)行測(cè)定,以免Ge晶體裂痕和腐蝕。
?。?)尖、硬且表面粗糙的樣品不適合用OMNI采樣器采樣,因?yàn)檫@些樣品極易刮傷晶片,甚至使其碎裂。